Smoltek Nanotech Holding AB: Smolteks CNF-MIM-kondensatorer uppvisar 1 000 gånger lägre strömläckage i nytt livslängdstest

Extremt lågt läckage ökar tillförlitligheten genom att minska kontinuerlig stress och värmegenerering under drift. I storskaliga AI-datacenter såväl som HPC-applikationer leder det till stabilare långsiktig prestanda, färre fältfel och viktigast av allt, mindre värmegenerering och strömförbrukning - faktorer som våra kunder anser vara avgörande.

Detta uppföljningstest för CNF-MIM-kondensatorerna närmare kommersialisering, och bygger vidare på de tidigare tillförlitlighetsresultaten som kommunicerades i november 2025. Testresultaten stärker ytterligare förtroendet för teknikens långsiktiga stabilitet under realistiska driftsförhållanden.

Jämfört med det tidigare testet uppvisar de nya kondensatorerna mer än 1 000 gånger lägre strömläckage, vilket motsvarar en isolationsresistans på 1 000 Gigaohm (GΩ) vid 2 volts spänning, samtidigt som de bibehåller hög stabilitet under hela livslängdstestet.

- I november 2025 rapporterade vi att våra CNF-MIM-kondensatorer uppvisade minimala förändringar under 1 000-timmars tillförlitlighetstestning, och där en kondensator gick sönder tidigt i testet. Det nyligen avslutade livslängdstestet, som genomförts på en ny iteration, markerar ett stort framsteg. Alla kondensatorer höll sig otroligt stabila, utan att någon av dem gick sönder. Och mest anmärkningsvärt är att strömläckaget höll sig inom picoampere-intervallet, samtidigt som kapacitans och ESR förblev oförändrade, säger Farzan Ghavanini, CTO på Smoltek.  

Parallellt med det interna testet genomför Smoltek även ett externt livslängdstest av CNF-MIM-kondensatorerna. Bolaget förväntar sig de slutliga resultaten från dessa tester inom de närmaste två veckorna (mitten av februari 2026). Resultaten från de externa testerna förväntas utgöra ett viktigt underlag för bolagets fortsatta dialoger med potentiella industriella samarbetspartners.

Testresultat i korthet 
Kondensatorerna drevs kontinuerligt under 1 000 timmar vid 85 °C, samtidigt som en konstant spänning på 2 volt applicerades. Testförhållandena är utformade för att simulera utökad långvarig drift i krävande chipmiljöer.  Kondensatorerna karakteriserades före och efter att livslängdstestet hade slutförts.

• Kapacitansdensitet: 170 nF/mm² (ingen meningsfull förändring efter test)
• Ekvivalent serieresistans (ESR): 1 500 mΩ (ingen meningsfull förändring efter test)
• Isolationsresistans: 1 000 GΩ, motsvarande 2 pA läckström vid 2 V DC (praktiskt taget oförändrad och till och med något lägre jämfört med initiala mätningar)